Kalibreringsskalaer til fasemikrometre

Kort beskrivelse:

Underlag:B270
Dimensionstolerance:-0,1 mm
Tykkelsestolerance:±0,05 mm
Overfladeplanhed:3(1)@632,8nm
Overfladekvalitet:40/20
Linjebredde:0,1 mm og 0,05 mm
Kanter:Slebet, maks. 0,3 mm. Fuld bredde facet
Klar blændeåbning:90%
Parallelisme:<5”
Belægning:Høj optisk densitet uigennemsigtig krom, faner <0,01% @ synlig bølgelængde
Transparent område, AR: R<0,35%@Synlig bølgelængde


Produktdetaljer

Produktmærker

Produktbeskrivelse

Mikrometerskalaer, kalibreringslinealer og gitre bruges almindeligvis i mikroskopi og andre billeddannelsesapplikationer til at give standardreferenceskalaer til måling og kalibrering. Disse enheder placeres typisk direkte på mikroskopbordet og bruges til at karakterisere systemets forstørrelse og optiske egenskaber.

Et scenemikrometer er et lille objektglas, der indeholder et gitter af præcist tegnede linjer med kendt afstand. Gittere bruges ofte til at kalibrere forstørrelsen af ​​mikroskoper for at muliggøre præcise størrelses- og afstandsmålinger af prøver.

Kalibreringslinealer og gitre ligner scenemikrometre, idet de indeholder et gitter eller andet mønster af præcist afgrænsede linjer. De kan dog være lavet af andre materialer, såsom metal eller plastik, og variere i størrelse og form.

Disse kalibreringsenheder er afgørende for nøjagtig måling af prøver under mikroskopet. Ved at bruge en kendt referenceskala kan forskere sikre, at deres målinger er nøjagtige og pålidelige. De bruges almindeligvis inden for områder som biologi, materialevidenskab og elektronik til at måle størrelse, form og andre egenskaber af prøver.

Introduktion af fasemikrometerkalibreringsskalagitter - en innovativ og pålidelig løsning til at sikre nøjagtige målinger i en bred vifte af brancher. Med en række forskellige anvendelser tilbyder dette utroligt alsidige produkt uovertruffen nøjagtighed og bekvemmelighed, hvilket gør det til et vigtigt værktøj for fagfolk inden for områder som mikroskopi, billeddannelse og biologi.

Kernen i systemet er scenemikrometeret, som giver graduerede referencepunkter til kalibrering af måleværktøjer såsom mikroskoper og kameraer. Disse holdbare mikrometre af høj kvalitet fås i en række forskellige størrelser og stilarter for at imødekomme behovene i forskellige brancher, fra simple enkeltlinjeskalaer til komplekse gitre med flere krydser og cirkler. Alle mikrometre er laserætset for nøjagtighed og har et design med høj kontrast for brugervenlighed.

En anden vigtig funktion i systemet er kalibreringsskalaen. Disse omhyggeligt udformede skalaer giver en visuel reference til målinger og er et vigtigt værktøj til kalibrering af måleudstyr såsom mikroskopborde og XY-translationsborde. Vægterne er lavet af materialer af høj kvalitet for at sikre holdbarhed og lang levetid og fås i forskellige størrelser for at opfylde kravene til forskellige anvendelser.

Endelig giver GRIDS et vigtigt referencepunkt for præcisionsmålinger. Disse gitre findes i en række forskellige mønstre, fra simple gitre til mere komplekse krydser og cirkler, hvilket giver en visuel reference til præcise målinger. Hvert gitre er designet til holdbarhed med et højkontrast, laserætset mønster for overlegen nøjagtighed.

En af de største fordele ved STAGE MICROMETERS CALIBRATION SCALES GRIDS-systemet er dets bekvemmelighed og alsidighed. Med en række forskellige mikrometre, skalaer og gitre at vælge imellem kan brugerne vælge den perfekte kombination til deres specifikke anvendelse. Uanset om det er i laboratoriet, felten eller på fabrikken, leverer systemet den nøjagtighed og pålidelighed, som professionelle kræver.

Så hvis du leder efter en pålidelig løsning af høj kvalitet til dine målebehov, behøver du ikke lede længere end til Stage Micrometer Calibration Ruler Grids. Med sin exceptionelle præcision, holdbarhed og bekvemmelighed er dette system helt sikkert et værdifuldt værktøj i dit professionelle arsenal.

Fasemikrometre kalibreringsskalaer gitre (1)
Fasemikrometre kalibreringsskalaer gitre (2)
Fasemikrometre kalibreringsskalaer gitre (3)
Fasemikrometre kalibreringsskalaer gitre (4)

Specifikationer

Substrat

B270

Dimensionstolerance

-0,1 mm

Tykkelsestolerance

±0,05 mm

Overfladeplanhed

3(1)@632,8nm

Overfladekvalitet

40/20

Linjebredde

0,1 mm og 0,05 mm

Kanter

Slebet, maks. 0,3 mm. Fuld bredde facet

Klar blændeåbning

90%

Parallelisme

<45”

Belægning

         

Høj optisk densitet uigennemsigtig krom, faner <0,01% @ synlig bølgelængde

Transparent område, AR R <0,35 % @ Synlig bølgelængde


  • Tidligere:
  • Næste:

  • Skriv din besked her og send den til os